一、基本信息
姓 名:马英杰
性 别:男
籍 贯:安徽
出生年月:1988年8月
毕业院校:复旦大学
学历学位:研究生/博士
技术职务:副研究员
导师类别:硕导
工作部门:中国科学院上海技术物理研究所 组件室
联系电话:021-25051448
电子邮箱:mayingjie@mail.sitp.ac.cn
二、工作简历
2018.09至今,中国科学院上海技术物理研究所。
2014.07~2018.08,中国科学院上海微系统与信息技术研究所。
(其中:2016.07~2018.03,美国加州大学洛杉矶分校访问学者)
三、学术兼职
Electronics专题编辑
Opt.Express,Appl.Opt.等国际期刊审稿人
第20届国际分子束外延大会组委会委员等
四、科研工作简介
主要研究方向为:短波红外探测器材料与器件物理研究、新原理器件研究、焦平面探测器组件集成研究、单光子雪崩探测器研究等。主持国家自然科学基金面上项目、国家某部委重大基础研究课题、上海市自然科学基金等项目或课题。参与承担国家重点研发计划、上海市重大基础研究、民口973等项目。在Advanced Optical Materials、Optics Express、IEEE Journal of Selected Topics on Quantum Electronics等期刊上发表SCI论文90篇,其中第一作者论文23篇,通讯作者4篇,引用超500次,H因子13。申请发明专利18件,已授权10件,3件已实现成果转化。出版《半导体光谱测试方法与技术》和《硅锗低维材料可控生长》专著2部。
五、主要获奖成果
上海技术发明奖三等奖1项 ( 2-3微米波段InP基无锑量子阱激光器材料、器件及应用,2015年)
六、代表性论文专利
1. Dislocation Evolvement in Metamorphic In0.83Ga0.17As/InP Photodetectors Through Ex-Situ Rapid Thermal Annealing, IEEE Journal of Quantum Electronics, 2022,通讯作者
2. Noise behaviors of SWIR InxGa1-xAs/InP focal plane arrays as a function of lattice-mismatch degree, Infrared Physics & Technology, 2022, 通讯作者
3. High Temperature Behaviors of 1–2.5 μm Extended Wavelength In0.83Ga0.17As Photodetectors on InP Substrate, IEEE Journal of Quantum Electronics, 2021,通讯作者
4. 320×256 Extended Wavelength InxGa1-xAs/InP Focal Plane Arrays: Dislocation Defect, Dark Signal and Noise, IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics, 2021,第1作者
5. Surface Leakage Behaviors of 2.6 μm In0.83Ga0.17As Photodetectors as a Function of Mesa Etching Depth, IEEE Journal of Quantum Electronics, 2020,通讯作者
6. Towards Surface Leakage Free High Fill-Factor Extended Wavelength InGaAs Focal-Plane Arrays, IEEE Journal of Quantum Electronics, 2019,第1作者
7. Electron-initiated low noise 1064 nm InGaAsP/InAlAs avalanche photodetectors, Optics Express, 2018,第1作者
8. Enhanced Carrier Multiplication in InAs Quantum Dots for Bulk Avalanche Photodetector Applications, Advanced Optical Materials, 2017,第1作者
9. 一种啁啾数字递变结构的低缺陷异变缓冲层生长方法, 发明, 2018,第1作者,专利号: 201611153882.0
10. 一种用于实现InGaAs光吸收波长扩展的材料结构,发明,2017,第1作者,专利号: ZL201510947270.8
12. 一种采用低维量子点倍增层的半导体雪崩光电探测器,发明,2017,第1作者,专利号: ZL201610847176.X
13. 一种波长扩展型InGaAs雪崩光电二极管的外延结构,发明,2017,第 1 作者,专利号: ZL201410729324.9
14. 一种组分递变过渡层的气态源分子束外延材料生长方法,发明,2017,第4作者,专利号: ZL201510952593.6
15. 一种宽谱InGaAs雪崩焦平面探测器及其制造方法,发明,2019,第1作者,专利号: 201910246107.7
16. 一种InGaAs雪崩焦平面探测器的串扰抑制结构,发明,2019,第1作者,专利号: 201910246111.3
17. 一种高均匀性单光子面光源的产生装置,发明,2019,第1作者,专利号: 201911125208.5
18. 硅锗低维材料可控生长,科学出版社(北京),2021-03,第1署名作者
19. 半导体光谱测试方法与技术, 科学出版社(北京),2016-01,第3署名作者
七、培养学生情况
截止2022年7月,在读硕士生1人,已毕业博士生1人、硕士生1人(含作为二导)。就业率:100%。主要就业去向:科研院所、高校、高科技企业等。