一、基本信息
姓 名:陈平平
性 别:男
籍 贯:浙江玉环
出生年月:1970年9月
毕业院校:南京大学
学历学位:研究生/博士
技术职务:研究员
导师类别:博导
工作部门:中国科学院上海技术物理研究所 物理室
联系电话:021-25051863
电子邮箱:ppchen@mail.sitp.ac.cn
二、工作简历
2004.01至今,中国科学院上海技术物理研究所。
1999.03~2001.05,中国科学院上海技术物理研究所,博士后。
2001.06~2003.12,日本 东北大学金属材料研究所,博士后。
2010.09~2011.08,澳大利亚国立大学,访问学者。
三、科研工作简介
1. 利用分子束外延(MBE)技术,成功生长高质量的GaAs/AlGaAs,InGaAs/GaAs 量子阱红外(THZ)探测材料,合作研制的长波(以及甚长波)红外探测器(QWIP)焦平面器件性能优良,能够满足国家重要项目要求。研制成功基于光耦合增强的高性能量子阱红外(以及THZ)探测器。
2. 基于固态P源分子束外延生长技术,生长高质量InGaAs/InP 雪崩光电二极管(APD)材料,合作开展相关APD单光子探测器和机理研究。
3. 利用MBE技术,成功生长高质量的GaAs,InAs,InGaAs,InAsSb等纳米线及异质结,并深入揭示其生长机理。研制成功超高灵敏的InAs 纳米线红外探测器。实现半导体纳米线的可控生长。
利用 MBE技术,生长高质量的HgTe,Cd3As2 基拓扑量子材料,深入其特殊磁输运机制,并利用原位ARPES揭示不同厚度,不同应力条件下5HgTe,Cd3As2材料能带的演化规律。
四、主要获奖成果
1. 热电子非局域能量耗散纳米成像,中国激光杂志社;“2018中国光学十大进展(基础研究类)”,2019 (第五)
2. 一种检测氮化镓基发光二极管质量优劣的方法(专利号ZL200510110630.5),国家知识产权局;“中国专利优秀奖”,2012 (第七)
五、代表性论文专利
1. Ultrasensitive Mid-wavelength Infrared Photodetection Based on a Single InAs Nanowire ACS Nano 13,3492(2019)(通讯作者)
2. Ultralow Threshold, Single-Mode InGaAs/GaAs Multiquantum Disk Nanowire Lasers ACS nano 15,9125 (2021) (通讯作者)
3. Thickness-Controlled Three-Dimensional Dirac Semimetal for Scalable High-Performance Terahertz Optoelectronics ACS Photonics 8, 1689 (2021) (通讯作者)
4. High-responsivity and polarization-discriminating Terahertz photodetectorbased on plasmonic resonance. Applied Physics Letters, 114,9. (2019) (通讯作者)
5. Bismuth-induced phase control of GaAs nanowires grown by molecular beam epitaxy, Applied Physics Letters,. 105,16 (2014) (通讯作者)
6) Imaging of nonlocal hot-electron energy dissipation via shot noise, Science. 360, 6390,. 775-778, (2018). (第五)
六、培养学生情况
截止2021年7月,在读博士生2人,在读硕士生3人。已毕业博士生10人,已毕业硕士生5人。就业率:100%。主要就业去向:科研院所、高校、高科技企业等。